SOC710SW 短波红外高光谱成像仪
SOC710 SWIR 短波红外高光谱成像仪是一款高质量、高性能的便携式高光谱成像仪，光谱范围900~1700nm。其高集成度的一体式设计，独特的内置扫描和双CCD设计，使得SOC710 SWIR以16bit的数字分辨率同时收集640*568像素、288个波段的高光谱图像。其优异的高光谱性能及成像质量，在同类产品中无出其右。
应用领域
- 精准农业
- 林业科学
- 环境遥感
- 资源勘察
- 燃烧分析
- 生物医学
- 食品药品
- 刑侦安全
- 机器视觉
- 材料科学
技术指标
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型号 |
SOC710 SWIR |
SOC750-HB |
SOC750-HR |
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主要特点 |
SW高性能 |
MW高亮度 |
MW高分辨率 |
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检测器 |
双CCD |
锑化铟(InSb) |
锑化铟(InSb) |
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空间像素 |
640x568 |
256*240 |
512*512 |
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光谱范围 |
900~1700 nm |
2-5µm |
2-5µm |
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光谱通道 |
288 |
42 |
64 |
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光谱带宽/分辨率 |
2.75nm |
0.073µm |
0.048µm |
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测量速度 |
~10秒/Cube |
11c/s@256×240×42 30c/s@160×144×42 |
2c/s@512×512×64 24c/s@128×146×64 |
产地：美国
